產(chǎn)品資料
日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品名稱: 日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào): AE-1152D_11C
產(chǎn)品特點(diǎn): 日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量超低電阻的醉佳選擇配備BIN功能，判斷結(jié)果可以分為11類
日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀 的詳細(xì)介紹
日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀
- 非常適合分流電阻器等的超低電阻測(cè)量。
- 取消對(duì)熱電效應(yīng)的測(cè)量
- 脈沖測(cè)量電流，以減少測(cè)量端子的自熱和磨損
- 接觸檢查功能標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
- 測(cè)量：0.0000mΩ?1.5000kΩ
- ％測(cè)量值：0.1mΩ?1kΩ/±50.00％[小分辨率10nΩ]
- GP-IB / RS-232C / Centronics接口（可選）
- 配備BIN功能[BIN1至BIN9] （多可以分類11個(gè)），集電極開(kāi)路輸出，LED顯示和蜂鳴器聲音
- 測(cè)量電流/測(cè)量電壓異常檢查電路的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
- 移位輸出可能
測(cè)量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C）
| 測(cè)量范圍 | 測(cè)量范圍 | 解析度 | 實(shí)測(cè)電流 | 測(cè)量精度 |
|---|---|---|---|---|
| 1毫歐 | 0.0000mΩ?1.5000mΩ | 0.1微歐 | 3A | ±（0.01 Pasento RDG Tasu 1Myuomega） ±3Digit [平均] ±4位數(shù)[SLOW] ±5digit [快] 內(nèi) |
| 10毫歐 | 0.000mΩ至15.000mΩ | 1微歐 | 1A | |
| 100毫歐 | 0.00mΩ至150.00mΩ | 10微歐 | ||
| 1Ω | 0.0000Ω?1.5000Ω | 100微歐 | 100毫安 | |
| 10Ω | 0.000Ω至15.000Ω | 1毫歐 | ||
| 100Ω | 0.00Ω至150.00Ω | 10毫歐 | 10毫安 | |
| 1KΩ | 0.0000kΩ至1.5,000kΩ | 100毫歐 | 1毫安 | |
| ％ | 0.1mΩ?1kΩ/±50.00％ | 0.01％[10nΩ] | 看上面 | 參考規(guī)格 |
| 測(cè)量端子開(kāi)路電壓 | 5V以下 |
|---|---|
| 測(cè)量方式 | 4端子測(cè)量[可進(jìn)行接觸檢查] |
| 采樣時(shí)間 | [自由運(yùn)行] 2至10次/秒 |
| [外部啟動(dòng)]大約9毫秒-400毫秒。 | |
| 比較器設(shè)定范圍 | 上限和下限均為[0至15000]， ％范圍：低0至-50％，高0至+ 50％ |
| 比較器判斷結(jié)果顯示 | [BIN1至BIN9]顯示和蜂鳴器 |
| 控制信號(hào) | 測(cè)量開(kāi)始信號(hào)：以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]開(kāi)始 |
| 保持信號(hào)：斷開(kāi)，“ H” [DC12V]：自由運(yùn)行，“ L” [0V]：保持 | |
| 判斷結(jié)果信號(hào)[LO / GO（BIN1至BIN9）/ H1] ：集電極開(kāi)路輸出max40V，100mA | |
| 接觸錯(cuò)誤[CONT-E]： 集電極開(kāi)路輸出大40V，100mA | |
| 測(cè)量結(jié)束信號(hào)[EOC]：集電極開(kāi)路輸出大40V，100mA | |
| 周邊環(huán)境 | 溫度：5℃?+ 40℃濕度：85％以下 |
| 需要電源 | AC85V-265V，50-60HZ，約60VA |
| 外形尺寸 | 333（W）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡膠腳等突起） |
| 重量 | 約3kg |
| 選項(xiàng) | ? RS-232C | 這些選項(xiàng)中 只有 一個(gè) 可以內(nèi)置。 |
|---|---|---|
| ? GP-IB | ||
| ?打印機(jī)輸出（Centronics） | ||
| ?打印機(jī)電纜 | ||
| ?短接（零歐姆標(biāo)準(zhǔn)電阻） | ||
日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀
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