日本napson溫度控制兼容高溫4探頭電阻計

日本napson溫度控制兼容高溫4探頭電阻計

產品特點

?在室溫至醉高600℃的范圍內調節溫度，并自動逐步測量電阻。

?包括真空控制，惰性氣體替換控制，加熱臺，水冷式冷卻器，測量單元溫度計，氣體流量計，真空計等。

?如果支持醉高120℃，則可以將其定制為半自動機器（面內多點測量/映射測量）。

測量規格

測量目標

• 與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
• 導電薄膜相關（金屬，ITO等）
• 其他（*請與我們聯系）

測量尺寸

φ10mm或5X10mm?35X35mm 
[*樣品室中的樣品大小。其他尺寸請聯系我們]

測量范圍

[電阻（比電阻）]10μ-100kΩ? cm

產品特點

?在室溫至醉高600℃的范圍內調節溫度，并自動逐步測量電阻。

?包括真空控制，惰性氣體替換控制，加熱臺，水冷式冷卻器，測量單元溫度計，氣體流量計，真空計等。

?如果支持醉高120℃，則可以將其定制為半自動機器（面內多點測量/映射測量）。

測量規格

測量目標

• 與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
• 導電薄膜相關（金屬，ITO等）
• 其他（*請與我們聯系）

測量尺寸

φ10mm或5X10mm?35X35mm 
[*樣品室中的樣品大小。其他尺寸請聯系我們]

測量范圍

[電阻（比電阻）]10μ-100kΩ? cm

日本napson溫度控制兼容高溫4探頭電阻計