日本DENSOKU電測膜厚測試儀QNIx系列

日本DENSOKU電測膜厚測試儀QNIx系列

日本DENSOKU電測膜厚測試儀QNIx系列

更容易測量麻煩的薄膜厚度
便攜式薄膜厚度計，提高生產(chǎn)效率

QNIx系列產(chǎn)品只需一個超輕便的緊湊型儀器和探頭即可測量薄膜厚度，無需攜帶厚膜厚度計。
無線測量無電纜。 測量數(shù)據(jù)可以很容易地傳輸?shù)絺€人計算機，并有助于防止測量期間墜落事故。

QNIx系列的特點
無需膠片校準即可精確測量薄膜厚度

提供出廠時輸入的16點校準數(shù)據(jù)。這消除了對麻煩的膠片校準工作的需要并且能夠進行精確的膜厚度測量。

薄膜厚度測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g(shù)

傳統(tǒng)的測量儀器通過將測量儀器和PC與電纜連接來傳輸測量數(shù)據(jù)。 QNIx系列使用“無線Dongle"，只需將其插入USB端口即可進行傳輸。可以快速輕松地查看測量數(shù)據(jù)。

超輕型無線測量儀器

探頭測量的數(shù)據(jù)無線傳輸?shù)街鳈C。降低像常規(guī)產(chǎn)品一樣被抓住或妨礙并導(dǎo)致事故的風(fēng)險。此外，探頭重30克，無需攜帶重型儀器。

探頭難以斷裂，不會在工件上留下痕跡

QNIx系列探頭被增強塑料包圍，耐用性提高了30％。即使它發(fā)生故障，也可以輕松拆卸和維修，縮短維修周期。此外，還附有紅寶石芯片，可在不損壞樣品（樣品）的情況下進行安全測量。

便攜式薄膜厚度計型號代碼指導(dǎo)

[F]黑色金屬材料的非磁性薄膜厚度測量

[N]對有色金屬材料的非導(dǎo)電薄膜厚度測量

[FN]使用單個探針測量黑色和有色金屬材料的薄膜厚度

[T]微探針

[M]測量數(shù)據(jù)存儲功能，數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C