半導體晶圓玻璃用紋理應變檢測儀簡介

扭曲的產(chǎn)品即使受到輕微的沖擊也是易碎的，在差的情況下，它們的不均勻性會導致自然扭曲和開裂。有了應變儀，這樣就可以很容易的找出Nama (*) 不完整產(chǎn)品的應變。
* Namashi = 加熱到適當溫度，保持該溫度，然后冷卻的過程。其目的是消除殘余應力，降低硬度，提高切削加工性，改善冷加工性，調(diào)整晶體結(jié)構。

旋轉(zhuǎn)框左右有0°到100°的刻度，正常情況下，0°是90°失真最大的顏色。

在檢驗工作中，我們首先找出無缺陷產(chǎn)品的限度。在此基礎上，如果使用旋轉(zhuǎn)框架的刻度可以確認菌株顏色低于良品極限產(chǎn)品開始發(fā)展的值，則可以判斷梨不夠。（但是，如果修剪處理充分，應變將不可見。修剪不充分，顏色會顯得更深。另外，應變會因樣品而略有不同。）

TS-9N型顯微鏡與高倍率立體雙目顯微鏡組合使用，可以清楚地觀察肉眼難以看到的微小檢查對象的變形。